COM-HPC Habilita un Sistema de Prueba Final de Paquetes Semiconductores Flexible y Escalable
Después de completar el proceso de empaquetado, los dispositivos semiconductores típicamente se someten a pruebas finales para verificar su funcionalidad y calidad. El equipo de prueba puede integrarse con un mecanismo automatizado de manejo y clasificación (manejador) que posiciona los dispositivos para la prueba y los clasifica según los resultados de las pruebas. A medida […]
Aplicación de Edge AI en la Fabricación de Semiconductores: Sistema de Control Inteligente Impulsado por Visión para el Sistema de Horno de Cristal Único
Solución de Inspección Visual de Alto Rendimiento: El Módulo COM Express de Portwell Potencia la Inspección de Precisión en Equipos Semiconductores
Aprenda cómo la Solución de Inspección Visual mejora la productividad de los semiconductores a través del procesamiento en tiempo real y la detección avanzada de defectos.
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Reconocimiento de Etiquetas de Cuchillas de Sierre de Wafers con IA en el Borde
Inspección de AI de la sierra de obleas de semiconductores y alineación automatizada
Portwell colabora con un fabricante de equipos de semiconductores japonés de renombre mundial para desarrollar soluciones de empaquetado avanzadas.
