Dado que los wafers son productos de alta tecnología y alto valor, cada etapa del proceso de producción debe ser controlada meticulosamente. Las anomalías en la producción que afectan el rendimiento del wafer o resultan en chatarra pueden llevar a pérdidas financieras significativas. En el proceso de fabricación de semiconductores, la sierra de wafers es parte de los procesos de backend, destinada a cortar un wafer intacto en chips individuales. Cuando la máquina de sierra de wafers detecta una desviación posicional en el proceso de corte, emite una notificación de anomalía. En este punto, el proceso de alineación se lleva a cabo manualmente a través de control remoto. Una vez que se completa el proceso de alineación, las operaciones de corte se reanudan. Dado que las desviaciones de la sierra de wafers dependen de la alineación manual en lugar de procesos automatizados, se requiere tiempo y mano de obra para alinear los parámetros del equipo hasta que la alineación esté completa.
Los sistemas de IA en el borde proporcionan soluciones para la inspección de la sierra de wafers al abordar los desafíos de la alineación manual a través de la tecnología de automatización. La IA mejora la precisión de la inspección de la sierra de wafers, lo que lleva a mejoras en la eficiencia operativa y ahorros de mano de obra. En los escenarios de aplicación, cámaras industriales capturan datos de imagen de la sierra de wafers con la asistencia de iluminación. Estas imágenes se transmiten desde la máquina de sierra de wafers al sistema de IA en el borde a través de un switch. El sistema de IA en el borde analiza y compara los datos de imagen para determinar si la sierra de wafers está desviada. Si se detecta una anomalía, el sistema de IA en el borde inicia un proceso de alineación, permitiendo que la máquina de sierra de wafers ejecute automáticamente el flujo de trabajo de alineación.
El PJAI-100-ON es un sistema de IA en el borde diseñado para la inspección de sierra de wafers de semiconductores y alineación automatizada. Alimentado por el NVIDIA® Jetson Orin Nano™ SOM, proporciona detección rápida y precisa de desalineaciones de la sierra de wafers. Equipado con 4GB/8GB de memoria LPDDR5, el sistema asegura capacidades de detección rápida y multitarea para el control de alineación automatizada. En términos de conectividad, el sistema cuenta con una ranura M.2 que soporta almacenamiento NVMe, mejorando las velocidades de procesamiento de datos. Los puertos duales RJ45 GbE facilitan conexiones con switches y servidores, permitiendo un manejo fluido de la transmisión de datos de imagen, control de alineación y respaldo de datos. Además, hay puertos USB y COM disponibles para expansión y conectividad con otros dispositivos. Esta arquitectura de aplicación incluye tres sistemas de IA en el borde, cada uno conectado a múltiples máquinas de sierra de wafers a través de un switch. Estos sistemas no solo permiten la detección basada en IA, sino que también ejecutan alineación automatizada, haciendo que el proceso de detección sea más preciso y eficiente.
Portwell ofrece soluciones DMS (Diseño, Fabricación y Servicio) integrales, asistiendo a los clientes en la atención de diversos escenarios de aplicación y demandas del mercado. A través de estos servicios, Portwell agrega valor al apoyar los procesos de diseño, fabricación y servicio postventa. Portwell RPET (Remote Portwell Engineering Toolkits) proporciona API y aplicaciones de sistema cruzado y plataforma cruzada, que van desde el monitoreo del sistema y control de dispositivos hasta la gestión remota. Su diseño de sistema optimizado mejora las capacidades de aplicación de IoT, permitiendo a los clientes construir soluciones de IoT con facilidad. Con gestión remota de espectro completo, RPET ofrece monitoreo integral del estado del sistema y soporta actualizaciones de firmware para garantizar operaciones estables y eficientes del sistema. Esta capacidad aborda las crecientes demandas de una mejor eficiencia de gestión y acceso remoto al sistema en entornos de IoT.
