Después de completar el proceso de empaquetado, los dispositivos semiconductores típicamente se someten a pruebas finales para verificar su funcionalidad y calidad. El equipo de prueba puede integrarse con un mecanismo automatizado de manejo y clasificación (manejador) que posiciona los dispositivos para la prueba y los clasifica según los resultados de las pruebas. A medida que la funcionalidad de los chips se expande y los requisitos de pruebas en múltiples sitios aumentan, el controlador del sistema debe ejecutar programas de prueba, controlar el equipo, registrar datos y conectarse a los sistemas de la fábrica simultáneamente.
La Gestión Centralizada de Resultados de Pruebas Acelera la Clasificación de Dispositivos Semiconductores y la Generación de Informes de Datos
El PCOM-B887 actúa como la plataforma de control y procesamiento de datos para el equipo de prueba final de paquetes semiconductores, gestionando los flujos de trabajo de prueba y el estado del equipo. Después de probar cada dispositivo, el sistema envía los resultados de disposición y clasificación al manejador, que dirige el dispositivo al contenedor de salida adecuado. Los registros de prueba y los datos de producción también se devuelven al sistema de gestión de pruebas. La centralización del procesamiento de resultados y la generación de informes de datos agiliza el intercambio de datos entre equipos, mejorando la trazabilidad de la producción y la eficiencia de gestión.
La Computación Heterogénea Soporta Cargas de Trabajo Concurrentes de Prueba y Gestión
Impulsado por la familia de procesadores Intel® Core™ Ultra 200S, el PCOM-B887 integra recursos de CPU, GPU y NPU. La CPU gestiona los flujos de trabajo de prueba, el control de equipos y la gestión de datos; la GPU acelera el procesamiento paralelo de datos y la visualización de resultados; y la NPU admite inferencia de IA para clasificación de anomalías, análisis de condiciones de equipos y mantenimiento predictivo. En un entorno de prueba multisite, las cargas de trabajo pueden asignarse al motor de cómputo adecuado para soportar la ejecución eficiente de tareas concurrentes. La NPU integrada también proporciona un camino de expansión para futuras aplicaciones de IA, incluyendo la clasificación de anomalías y el mantenimiento predictivo.
Memoria de Alta Capacidad y Expansión de Alta Velocidad Soportan Pruebas en Múltiples Sitios
Con soporte para hasta 192GB DDR5, el PCOM-B887 ofrece capacidad de memoria para almacenar datos de prueba multisite, retener registros históricos y ejecutar múltiples servicios de software. Las expansiones PCIe Gen5 y Gen4 pueden acomodar tarjetas FPGA, tarjetas de interfaz de prueba, módulos de red o módulos de control de equipos según los requisitos del sistema. Con una placa portadora personalizada, los fabricantes de equipos pueden configurar funciones para diferentes diseños de máquinas y requisitos de prueba mientras conservan la flexibilidad para futuras actualizaciones de la plataforma.
Especificaciones Clave del PCOM-B887
Desde el Diseño-Inicial hasta la Producción en Serie, Reduzca el Riesgo de Integración de Equipos
Desarrollar equipos de prueba final para paquetes semiconductores requiere más que seleccionar una plataforma de computación. El diseño también debe abordar los requisitos de interfaz, manejo térmico, integración mecánica, compatibilidad de software y disponibilidad a largo plazo del producto. Portwell ofrece diseño de placa portadora personalizada, ajuste de firmware, validación del sistema, soporte para el aumento de la producción en serie y gestión del ciclo de vida para ayudar a los fabricantes de equipos a acortar los ciclos de desarrollo mientras mejoran la capacidad de servicio a largo plazo y la flexibilidad de actualización de la plataforma.
